珠海真理光學儀器有限公司專注于顆粒表征和分析儀器的研發和生產，公司聚集了多位在顆粒學和粉體技術領域具有豐富經驗和工作成就的精英人才，其專業涵蓋顆粒表征技術的基礎理論研究、應用技術開發、產品制造、技術支持和商業運營服務。 真理光學技術團隊具有超過二十年粒度表征及應用的研究和開發經驗，其獨有的優勢包括：
- 具有深厚的基礎理論研究功底及能力
能從根本上探索激光粒度測量的機理、存在的問題及解決方法。典型成果為發現愛里斑的反常變化（ACAD)規律及其對顆粒測量的影響，解決了 ACAD現象對光能數據反演的干擾。
- 具備先進技術的原創能力
斜置梯形窗口技術解決了全反射盲區問題，使亞微米顆粒的測量能力得到極大的加強；統一的散射光能反演算法，免除用戶必須選擇反演模式，而不同模式有不同結果的困擾；偏振空間濾波技術解決了傳統針孔濾波的震動敏感問題；利用散射光的偏振差異解決了折射率未知顆粒的測量問題。
- 精益求精的工匠精神
每一個產品從基礎理論研究到技術創新、從質量管控 到客戶服務，真理光學都以其精益求精的態度追求細節之處的完美。
從納米到微米，從固體顆粒到乳液、噴霧，真理光學致力于為全球客戶提供最專業、最全面的顆粒表征和應用解決方案！
