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解析Micro-LED顯示全彩化關鍵技術
復旦大學信息科學與工程學院副教授田朋飛團隊與臺灣交通大學、電子科技大學相關團隊合作，圍繞Micro-LED顯示全彩化關鍵技術撰寫綜述文章，發表于Progress in Quantum Electronics雜志。文章系統闡述了實現全彩色micro-LED顯示的生長技術、轉移打印技術、顏色轉換技術，對三種關鍵技術的機理、實現方法、優缺點進行著重介紹。
復旦大學
2021-01-12
一種倒裝 LED 芯片在線檢測方法
本發明公開了一種倒裝 LED 芯片在線檢測方法，該方法包括: 在工作中，運輸傳送系統可以運輸盤片工作臺到合適的工作區域，調 整位姿之后，啟動探測對準系統對探針工作臺進行控制，使探針與待 測試的芯片接觸通電，使芯片發亮，從而收光測試組件可以對其進行 檢測。按照本發明的在線檢測方法，能夠成功地解決倒裝 LED 芯片電 機和發光面不同側的問題，并且采用了精密圖像運動控制技術，實現 了倒裝 LED 芯片的高速精密測試，加快了芯片的檢測效率。按照本發
華中科技大學
2021-04-14
一種 LED 封裝透鏡的形貌控制方法
本發明公開了一種 LED 封裝透鏡的形貌控制方法，包括：步驟 1，采用點膠設備將制備透鏡的聚合 物或熔融玻璃轉移至 LED 模塊，并覆蓋住 LED 芯片；步驟 2，采用點膠設備或微注射器將與聚合物不 相溶的液滴轉移至聚合物表面；步驟 3，采用加熱法固化聚合物、蒸發液滴，獲得具火山口形凹槽的透 鏡。本發明在降低加工成本、縮短加工周期的同時，還極大提高了透鏡的表面光潔度，從而可改善 LED 產品光學性能，適用于包括支架式、板上芯片、陣列式、系統封裝
武漢大學
2021-04-14
一種倒裝 LED 芯片在線檢測裝置
本實用新型公開了一種倒裝 LED 芯片測試裝置，該裝置包括：工作臺模塊、運輸傳輸組件、收光測試組件、探針測試平臺以及精密對準系統，其中，在工作中，運輸傳輸組件可以運輸待測試倒裝 LED芯片到合適的工作區域，使待測試倒裝 LED 芯片對準收光測試組件的收光口處，調整位姿之后，啟動探針測試平臺，使探針與待測試的芯片接觸通電，使芯片發亮，從而收光測試組件可以對其進行檢測。按照本實用新型的機械結構，能夠成功地解決倒裝 LED 芯片電機和發光面不同側的問題，并且采用了精密圖像運動控制技術，實現了倒裝 LED芯
華中科技大學
2021-04-14
一種倒裝 LED 芯片在線檢測裝置
本實用新型公開了一種倒裝 LED 芯片在線檢測裝置，其包括：工作臺模塊、收光測試組件、運輸傳輸組件、探針測試平臺、精密對準系統，其中，在工作中，運輸傳送系統可以運輸盤片工作臺到合適的工作區域，調整位姿之后，啟動探測對準系統對探針工作臺進行控制，使探針與待測試的芯片接觸通電，使芯片發亮，從而收光測試組件可以對其進行檢測。按照本實用新型的機械結構，能夠成功地解決倒裝 LED 芯片電機和發光面不同側的問題，并且采用了精密圖像運動控制技術，實現了倒裝 LED 芯片的高速精密測試，加快了芯片的檢測效率。按照本
華中科技大學
2021-04-14
一種倒裝 LED 芯片在線檢測裝置
本發明公開了一種倒裝 LED 芯片在線檢測裝置，其包括:工作 臺模塊、收光測試組件、運輸傳輸組件、探針測試平臺、精密對準系 統，其中，在工作中，運輸傳送系統可以運輸盤片工作臺到合適的工 作區域，調整位姿之后，啟動探測對準系統對探針工作臺進行控制， 使探針與待測試的芯片接觸通電，使芯片發亮，從而收光測試組件可 以對其進行檢測。按照本發明的機械結構，能夠成功地解決倒裝 LED 芯片電機和發光面不同側的問題，并且采用了精密圖像運動控制技術， 實現了倒裝 L
華中科技大學
2021-04-14
高光效黃光LED材料與芯片制造技術
中心通過“裝備與工藝的協同創新”，創新發展了具有自主產權的大科學裝置—MOCVD高端裝備，并在硅襯底上生長第三代半導體InGaN黃光LED材料，取得了歷史性突破，將黃光LED的光效由國際上報道的不足10%，提升到了27.9%，結束了國際市場上長期缺乏高光效黃光LED的局面。國際同行、諾貝爾獎獲得者中村修二教授高度稱贊這項成果：“硅基黃光LED的技術水平國際領先，這是屬于中國人首次發明的照明技術，它有非常大的價值。”陳良惠院士領銜的12位業內專家，對
南昌大學
2021-04-14
基于LED的水下數字視頻傳播裝置
南京郵電大學
2021-04-14
一種倒裝 LED 芯片在線檢測裝置
本發明公開了一種倒裝 LED 芯片在線檢測裝置，其包括：工作 臺模塊、收光測試組件、運輸傳輸組件、探針測試平臺、精密對準系 統，其中，在工作中，運輸傳送系統可以運輸盤片工作臺到合適的工 作區域，調整位姿之后，啟動探測對準系統對探針工作臺進行控制， 使探針與待測試的芯片接觸通電，使芯片發亮，從而收光測試組件可 以對其進行檢測。按照本發明的機械結構，能夠成功地解決倒裝 LED 芯片電機和發光面不同側的問題，并且采用了精密圖像運動控制技術， 實現了倒裝 LED 芯片的高速精密測試，加快了芯片的檢測效率。按
華中科技大學
2021-04-14
一種倒裝 LED 芯片在線檢測方法
本發明公開了一種倒裝 LED 芯片在線檢測方法，該方法所涉及 的檢測裝置包括盤片裝載臺、運輸傳輸系統、收光測試組件、探針工 作臺以及探測對準系統，其中，該在線檢測方法為:在工作中，運輸 傳送系統可以運輸盤片工作臺到合適的工作區域，調整位姿之后，啟 動探測對準系統對探針工作臺進行控制，使探針與待測試的芯片接觸 通電，使芯片發亮，從而收光測試組件可以對其進行檢測。按照本發 明的機械結構，能夠成功地解決倒裝 LED 芯片電機和發光面不同側的 問題，并且采用了精密圖像
華中科技大學
2021-04-14