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本發明公開一種磁納米粒子濃度成像方法，其主要創新在于采用交流磁化率的虛部來進行濃度成像，有效提高磁納米粒子成像的空間分辨率。對磁納米粒子施加交流磁場和直流梯度磁場，檢測出一次諧波幅值和相位。利用幅值差和相位差或直接利用磁化強度變化量計算出磁納米粒子交流磁化率的實部和虛部。通過控制直流梯度磁場的零磁場點位置，求解出不同空間位置的磁納米粒子交流磁化率的實部和虛部，進而利用交流磁化率的虛部實現磁納米濃度成像。從仿真數

本發明公開了一種適用于線型缺陷的磁軛式局部微磁化檢測裝 置，該裝置包括磁敏感元件部分，磁感應部分及磁軛式局部微磁化部 分，磁敏感元件部分包括磁敏感元件、引線端、磁引導芯和引導芯套 筒，磁引導芯由長短不一的長方體形引導芯構成；磁感應部分由繞制 在引導芯套筒外側的磁感應線圈和引線端組成；由引導芯套筒支撐固 定的磁軛式局部微磁化部分，包括方形導磁構件、磁軛式雙磁鐵以及 斜向雙導磁構件，該部分將磁場量導入待檢測金屬體內，達到局部微 磁化的效果，通過與磁引導芯連接的磁敏感元件和引導芯套筒外的磁 感應線圈，傳遞

本發明公開了一種基于磁納米粒子交流磁化率的溫度測量方法，所述方法包括如下步驟：(1)確定待測對象區域，并利用通電螺線管對待測區域施加交流激勵磁場；(2)利用探測線圈采集交流激勵磁場下待測區域的磁感應強度 H1；(3)保持交流激勵磁場不變，將磁納米樣品放置于待測對象的待測區域內，利用探測線圈采集施加磁納米樣品之后待測區域的磁感應強度 H2；(4)計算磁納米粒子的交流磁化率χ的實部χ’和虛部χ”；其中的 A1，A2，α都

本發明公開了一種基于磁納米粒子一次諧波幅值的成像方法。采用交流磁化強度一次諧波幅值實現磁納米濃度成像，只需在一個方向施加高頻正弦磁場并在不同方向提供掃描磁場便可實現一維、二維以及三維空間的掃描；用低頻三角波掃描磁場或低頻正弦波掃描磁場控制空間區域零磁場點的位置，求解出不同空間位置的磁納米粒子的一次諧波幅值，最終實現磁納米濃度成像，從而避免了通過改變直流電源的大小來移動零磁場點掃描空間，有效提高了磁納米粒子成像的

本發明公開了一種基于矢量變換與信號濾波的定子磁鏈計算方法。采用交流電動機定子磁鏈的電壓模型，對輸入的反電動勢矢量進行幅值和相位變換直接得到原始的定子磁鏈矢量，然后經過信號濾波與補償處理得到期望的定子磁鏈。分別設計了基于可編程的低通濾波器(LPF)和帶通濾波器(BPF)的矢量變換方案，并且根據計算磁鏈幅值盡快收斂于給定磁鏈值的原則得到優化函數，對 LPF 與 BPF 的優點進行組合，得到性能最優的磁鏈計算方法。進一步的

本發明公開了一種基于體表反向場的內外傷漏磁檢測區分方法及裝置。該方法的特征為：將被檢測導磁構件磁化，在上述被磁化導磁構件體表內施加反向磁感應場 B_反，與體內原有磁感應場B_原發生矢量疊加抵消，在體表內形成零磁感應區域，使得出現在該體表內區域的缺陷(也即外傷)因無漏磁場產生而無法被探測到；而出現在非體表零磁感應區的缺陷均有漏磁場產生而可以被探測到，包括內、外傷；然后采用磁敏元件分別布置靠近于零磁感應區和非零磁感應

本發明提供一種基于磁表征的鐵磁性材料表面輪廓檢測識別方法，該方法先將磁敏元件以 0-5<i>mm</i>的提離距離靠近待檢鐵磁性材料表面，拾取近表空氣域內磁場特征，并轉化為電壓信號；再采用電壓信號幅值比較識別判斷法，或者檢測信號波形圖方法進行表面輪廓識別判斷。本發明為非接觸式提離檢測方式，可以實現在線輪廓檢測識別；檢測手段能夠直接穿透灰塵及污垢等物質而不受干擾，不需要高的待檢測表面清潔度及檢測工況環境光線要求。該方法原理是基于鐵磁性材料在加工完后的剩磁在地磁場作用下的磁表征現

產品詳細介紹產品簡介：　　12MHz核磁巖心分析儀，主要用于常規與非常規巖心的孔滲飽測試，可用于低孔低滲巖樣測試評價。　　MicroMR12產品身軀小巧，結構緊湊，是具有世界先進水平的臺式核磁共振巖心分析儀；可滿足石油勘探領域的孔隙度、滲透率、飽和度、可動流體飽和度、束縛流體飽和度等相關分析測試，測量結果客觀真實、精準度高、重復性好，儀器性能穩定，性價比高。技術指標：1、磁體類型：永磁體；2、磁場強度：0.28±0.05T，儀器主頻率：12MHz；3、探頭線圈直徑：25.4mm；應用解決方案：1) 常規巖心孔隙結構及流體飽和度；2) 非常規巖心（致密巖心，泥巖，頁巖）孔隙結構及流體飽和度；3) 中大尺寸巖樣含油含水分布、油水含量測試；應用案例一：玻璃珠孔隙模型測試（不同飽和度下T2弛豫圖譜分析）應用案例二：核磁共振T2圖譜與巖樣孔喉分布注：儀器外觀如有變動，以最新款為準。

產品詳細介紹SC-G型自動考種及千粒重分析儀（含玉米果穗考種）1、貨物名稱：SC-G型自動考種及千粒重分析儀（含玉米果穗考種）玉米自動考種及千粒重分析儀所配的各種種粒自動考種及千粒重分析儀2、主要用途：SC-G型自動種子考種分析及千粒重儀系統是根據圖像識別原理來實現自動分析的。目標照明模式可在背光和普通日光之間切換。可用于各類農作物實粒種子（谷粒、玉米、小麥、油菜籽等）的精確考種、各類糧庫的蟲口計數分析，以及另加配件后可做發芽率、均勻度分析，可兼做表面光滑的昆蟲計數或蟲卵計數（如：米象、蚜蟲、蠶卵、魚籽等），以及被當作種子凈度工作臺用于種子凈度檢驗。內置支持網上在線升級的模塊。3、主要性能指標配A3幅面最高分辨率1600dpi × 1600dpi、紫光M1彩色掃描儀。可分析各類種粒的種粒直徑1～20mm。掃描儀分析工作區：A3幅面（431.8mm×304.8 mm）。可同時成像分析10個玉米果穗、35個玉米截面、1000粒左右玉米籽粒。配500萬像素分辨率的彩色數碼拍攝儀，及超薄的背光光源板（大于A4幅面），具有圖像調整、觀察特性。1）．籽粒數分析速度、精度：自動數粒速度：1500～3000粒/分鐘（玉米籽粒），其它籽粒為1200～20000粒/分鐘，數粒誤差≤±0.1~0.4%，監視修正即達100%正確。具有相機畫面畸變、背光板均勻性的自動矯正特性，有效減小尺寸測量誤差。對于直徑較小的種粒（如油菜籽、蔬菜籽），單批次考種數量在5000-10000粒。可根據實際需求自行創制一鍵自動分析向導，適用于水稻、小麥、玉米、豆類、油菜籽、瓜子、蔬菜籽等各類農作物的自動精確考種，自動測出籽粒數、各籽粒的粒形參數（長、寬、長寬比、面積、等效直徑、周長等），以及其平均值，能精準顯示種粒外接矩形，并可自動排序輸出，及可輸出粒徑分布圖表。自動千粒重分析的精度誤差：≤±0.5%。具有對被分析目標顏色、形狀進行自學習和再學習，并實現自動分類的特性，以及品種比對特性。能大批量自動分析成像后的種粒圖片。2）．果穗、截面分析速度、精度：同時成像分析玉米果穗：10個/次/分鐘、玉米截面：35個/次/分鐘。全自動測出各玉米穗長、穗粗、禿尖長、左右穗緣角、穗行角、平均行粒數、粒厚、截面穗行數、穗粗、軸粗，以及其平均值，可自動測出各玉米截面上的平均粒長、平均粒寬等參數。3）．有被測樣本條碼、電子天平RS232重量數據的自動輸入接口，插上電腦條碼槍即可刷入樣本條碼編號；電子天平上的被測樣本重量數據可一鍵送到電腦保存為EXCEL表。4）．分析過程為全程電腦控制，高效、準確、簡便易用，真正一鍵式操作，鼠標一點，結果即現。5）．輔助刪補：用鼠標選擇增加/刪除，或直接用鼠標在屏上手工計數，以確保100%正確。目標區的個性化計數：對工作區視野中任選范圍或矩形范圍內的計數。6）．分析數據導出：分析圖像結果可保存，以及按大小形狀排列輸出，自動形成總報表，統計分析結果能輸出至Excel表，以及，以及按寬度、長度、面積等輸出的排列圖和測量圖。3. 供貨配置表：SC-G型自動考種及千粒重分析系統 數量 備注SC-G型自動考種及千粒重分析軟件及《簡明手冊》 1張 光盤，3年免費升級軟件鎖 1個 1年保換、2年保修SC-G型自動考種及千粒重分析系統軟件質量三包卡 1張 光盤電子文檔中A3幅面的紫光M1彩色掃描儀 1臺 紫光公司全國聯保1年USB2.0接口的拍攝儀（彩色500萬像素） 1臺 非人為損壞，質保1年超薄的背光光源板（A4幅面工作臺板） 1個 非人為損壞，質保1年帶RS232通訊接口的量程220g電子天平（精度1mg） 1臺 生產廠家聯保1年RS232接口通訊傳輸線 1條 非人為損壞，質保1年種粒成像盤、種粒收納小盤 各1 4. 推薦電腦配置（需另配，由投標的經銷商在當地找供應商）品牌電腦（酷睿i5 CPU / 8G內存/ 19.5”彩顯/無線網卡，5個以上USB2.0口，運行環境Windows 10完整專業版或旗艦版）