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傳統上多采用Ni/Au金屬作為LED的電極，降低出光效率，因此，需要采用透明電極。針對LED對透明電極的要求，利用磁控濺射法在玻璃襯底上設計不同氣氛、襯底溫度、工作氣壓、濺射功率、靶距、濺射時間等參數下的實驗制備CIO和ZAO薄膜，探尋制備兩類薄膜的合適的工藝條件；并研究了退火處理對制備薄膜的結構和性能的影響。制備出高質量、高性能的CIO和ZAO薄膜，發現薄膜的透光率均在80%以上，甚至可高達91％，電阻率達到10－3Ω.cm數

色母粒用法： 1.加強原料防潮；如吸潮，混料前后可烘料處理。（可詢問春潮色母填料目數，看是否需要提高填料細度） 2.螺桿的嚙合快組合中，適當增加反向嚙合塊數（1~2塊），加大混合力。 3.加大擠出機真空口的真空度。增加真空口的清理頻率。 4.適當提高螺桿轉數，減少物料在螺桿中的停留時間。 山東春潮集團有限公司:30年專注色母粒研發生產，產品主要用于：丙綸、滌綸、紡絲級、通訊電纜級、編織袋、化工助劑、擠出、薄膜級、吹膜級等專用母粒及塑料通用色母粒。具有品種齊全，色澤鮮艷，顏料分散性好等優點，歡迎使用。 色母粒優點:具有品種齊全，色澤鮮艷，顏料分散性好等優點，歡迎使用. 通用色母粒：指用PE作為載體. 通用黑色母粒廣泛應用于PE、PP、PS、ABS、PA、PBT、PET、PC、POM、EVA、PPO等吹塑、擠塑、注塑等。通用黑色母粒特點：分散性好，黑度高，著色力強，防紫外、防老化。 山東春潮集團有限公司專業生產銷售：聚烯烴專用光亮母料，塑料香味母料，除潮母料，光降解母料，阻燃母料，食品級色母料，給水用PVC-U管件粒料，防老化專用母料，聚烯烴填充母料，管材專用色母料，可生物降解母料，丙綸色母粒，纖維色母粒，化纖色母粒，色母料廠家，色母粒，色母料，填充母料，色母料價格，色母粒公司，色母粒配方，黑色母粒，塑膠色母粒，編織袋,背心袋，消泡母料，透明填充料，塑料袋，連卷袋.

產品詳細介紹

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產品詳細介紹教學用調溫電阻爐是為便于學生完成常規熱處理實習、實驗而專門設計的一種小型熱處理電阻爐。該設備對比原來用于教學實習的設備，具有體積小、重量輕、功率小、升溫快，無需特別安裝，移動方便，投資小，教學面大，實習操作性強等優點。是熱處理教學實習、實驗的理想教具。其特征是臥式直通敞開式雙爐口型，在一個爐架上配備有相互獨立的兩組電爐和兩組可調溫控裝置，可獨立控制。爐溫調節范圍為0～880℃。可放置于普通實驗桌上，供4～8名學生同時進行實習。一個自然班學生，一般采用5～10臺即可滿足。本系列教學用調溫電阻爐以新型鐵-鉻-鋁高溫合金絲為發熱元件，爐膛最高溫度有880℃、1100℃兩種，測溫元件采用K分度熱電偶，控溫方式有自動恒溫型和程序控溫型兩種。該設備改變了以往學生進行熱處理實習時，只能看，不能進行全過程動手操作的狀況。學生可完成如榔頭、鋸條、彈簧等小零件的退火、正火、回火和淬火的全過程。在操作過程中，學生通過敞開式的爐口，還可以隨時觀察到不同溫度時，材料顏色的變化以及機械性能的改變。使看不見摸不著的熱處理工藝過程變得直觀、生動、清晰、簡便。1、最高溫度：880℃；2、電源及功率AC220V/2.5KW；3、爐膛尺寸：∮40×300mm；4、測溫：K分度號熱電偶+數顯控溫儀；5、控溫：自動恒溫，控溫精度：±8℃；

左和平教授等所著《中國陶瓷產業國際競爭力研究》一書通過探索陶瓷產業國際競爭力的形成機理，發現陶瓷產業國際競爭力的培育路徑和影響因素；通過在全球視角下分析中國陶瓷產業的生產與貿易現狀，分析中國陶瓷產業的發展態勢和趨勢；通過中國陶瓷產業國際競爭力與區域競爭力的測度，明確中國陶瓷產業國際競爭力的國際地位、區域分布和發展態勢；尋找提升中國陶瓷產業國際競爭力的有效途徑和具體的戰略措施，促進中國陶瓷產業國際競爭力的提高。本書獲得第五屆江西省高等學校科技成果獎一等獎。

原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope, AFM)，是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。將一對微弱力極端敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時它將與其相互作用，作用力將使得微懸臂發生形變或運動狀態發生變化。掃描樣品時，利用傳感器檢測這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級分辨率獲得表面形貌結構信息及表面粗糙度信息。 原子力顯微鏡主要由帶針尖的微懸臂，微懸臂運動檢測裝置，監控其運動的反饋回路，使樣品進行掃描的壓電陶瓷掃描器件，計算機控制的圖像采集、顯示及處理系統組成。微懸臂運動可用如隧道電流檢測等電學方法或光束偏轉法、干涉法等光學方法檢測，當針尖與樣品充分接近相互之間存在短程相互斥力時，檢測該斥力可獲得表面原子級分辨圖像，一般情況下分辨率也在納米級水平。AFM 測量對樣品無特殊要求，可測量固體表面、吸附體系等。

項目簡介 原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope, AFM)，是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。將一對微弱力極端敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時它將與其相互作用，作用力將使得微懸臂發生形變或運動狀態發生變化。掃描樣品時，利用傳感器檢測這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級分辨率獲得表面形貌結構信息及表面粗糙度信息。原子力顯微鏡主要由帶針尖的微懸臂，微懸臂運動檢測裝置，監控其運動的反饋回路，使樣品進行掃描的壓電陶瓷掃描器件，計算機控制的圖像采集、顯示及處理系統組成。微懸臂運動可用如隧道電流檢測等電學方法或光束偏轉法、干涉法等光學方法檢測，當針尖與樣品充分接近相互之間存在短程相互斥力時，檢測該斥力可獲得表面原子級分辨圖像，一般情況下分辨率也在納米級水平。AFM 測量對樣品無特殊要求，可測量固體表面、吸附體系等。a 傳統的商業CAFM 針尖圖  b 覆蓋有石墨烯層的CAFM 針尖應用范圍原子力顯微鏡(AFM) 在許多基礎研究領域中得到廣泛使用，是超微觀察工具，特別是對于不具有導電性的生物樣品和有機材料等，AFM 同樣可以提供較高分辨率的表面形貌圖像。同時，AFM 還具有操縱和改造原子、分子世界的手段。原子力顯微鏡為了避免加寬效應，一般通過電子束加工針尖使其曲率半徑達到幾個納米，來提高圖像的分辨率和準確度。但仍然存在著一些局限性，例如：針尖性質的變化很大，獲得高分辨率的圖像變得很難。另外，針尖掃描時的磨損對分辨率也有影響。AFM 能獲得原子分辨率，主要是因為在其針尖的表面存在著原子級的突起，構成了與樣品的實際接觸。但是這些突起的尺寸形狀和化學組成是未知的，而且在實驗中經常發生改變，因此獲得可信賴的針尖是成像過程中獲得高分辨率的關鍵。不同的針尖適用于AFM 不同的應用領域。導電原子力顯微鏡（CAFM）采用固體金屬作AFM 的針尖，對材料進行納米尺度的電學表征依然存在著同樣的困擾。 項目階段北京大學工學院研究團隊利用單層石墨烯包覆CAFM 金屬針尖，發現石墨烯包覆的針尖保留了包覆前針尖的形狀，并且包覆的針尖能承受非常高的電流和摩擦力。新型針尖具有穩定、耐磨、壽命長、圖像失真度低等優點，很好的解決了現有AFM 針尖中存在的問題，提高了AFM 的儀器性能。知識產權該項研究已經申請了歐洲專利，納米技術設備領域的諸多公司表現出了對該項研究成果的強烈興趣。合作方式 技術轉讓、合作開發、技術入股。