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一種基于轉矩估算的感應電機轉子磁場定向偏差校正方法
本發明提供了一種基于轉矩估算的感應電機轉子磁場定向偏差校正方法,本分明分別采用兩種方式計算感應電機的輸出轉矩，一種是利用矢量控制系統中，兩相靜止坐標系下的電壓和電流計算感應電機的輸出功率，進而估算得到感應電機的輸出轉矩，二是利用矢量控制系統旋轉坐標系下的 d 軸和 q 軸電流指令值，以及磁場定向偏差角度，計算得到感應電機的輸出轉矩，然后利用兩種方式計算得到轉矩構成包含磁場定向偏差角度的方程，進而通過該方程求解磁場定向
華中科技大學
2021-04-14
餐廚廢棄物分質分相梯級轉化技術與應用
餐廚垃圾是指家庭、學校、機關、公共食堂以及餐飲行業的食物廢料、餐飲剩余物、食品加工廢料及不可再食用的動植物油脂和各類油水混合物，是城市生活垃圾的一部分。垃圾處理是環保領域的支撐性產業之一，目前市場缺口明顯，可增長空間巨大。而餐廚垃圾處理又是垃圾處理的重要一環，我國每年產生餐廚廢棄物不低于6000萬噸，年均增速達15%以上，潛在需求旺盛，具有良好產業發展契機。我國餐廚廢棄物處理主要采用厭氧消化工藝，
但由于餐廚廢棄物”油－水－固“共存的特點導致處理過程中有機質轉化率低、工藝穩定性差、二次污染控制不足等問題，嚴重制約著其工藝推廣。
浙江大學石偉勇教授聯合課題組針對餐廚廢棄物等瓶頸問題：開發了熱調質的提油技術和好氧生物調控的脫水技術，實現“油—水”的高效分相轉化，為有機物后續梯級轉化利用提供了有力的技術支撐。(2)發明了微好氧生物強化產酸、Fe2+/Fe3＋促解除丁酸抑制及活化過硫酸鹽強化產氣的“酸－氣”時序性可選調控技術，實現餐廚廢棄物短程產酸、解除中程酸抑制及長程強化產氣的靈活多梯級轉化。為解決現有餐廚廢棄物厭氧發酵工程的酸抑制等系統不穩定難題提供了有效的解決方案。
浙江大學
2023-05-10
基于差分拉曼便攜動態無創血糖監測儀
本成果首次創新性采用指甲上采集血糖拉曼信號，并利用雙波長激發差分算法消除背景噪聲，極大提升信號信噪比，實現個體病例一天血糖變化趨勢監測。其中核心技術包括拉曼光譜差分算法和多重迭代反卷積算法進行血糖濃度預測，解決了利用光學方法實現無創監測血糖在低血糖濃度（4mmol/L）監測不準確的行業難題；
一、項目分類
關鍵核心技術突破
二、技術分析
1、研發背景：
無創血糖動態檢測技術一直是醫學工程領域研究熱點之一，也是具有挑戰性的世界性難題，我國現有近1.4億的糖尿病患者。而糖尿病作為一種慢性疾病，目前還沒有效的治療方式，血糖監測是其唯一的預防及治療方式。
解決主要問題：
解決了常規拉曼無創血糖監測背景噪聲影響大，監測準確度低等問題，首次創新性采用指甲上采集血糖拉曼信號，并利用雙波長激發差分算法消除背景噪聲，極大提升信號信噪比，實現個體病例一天血糖變化趨勢監測。其中核心技術包括拉曼光譜差分算法和多重迭代反卷積算法進行血糖濃度預測，解決了利用光學方法實現無創監測血糖在低血糖濃度（4mmol/L）監測不準確的行業難題；
創新性：
1）方法創新：實驗證明在指甲上可以有效測得拉曼信號，預測正確度達到85%（GB/T 27417-2017）以上，達到國際醫療標準；
2）算法創新：在差分算法中加入特殊約束算符對信號進行約束優化，有效的抑制了噪聲信號并使較弱的拉曼峰信號增強近百倍。
3）外觀設計創新：自主設計一款便攜式、小型化（長×寬×高=15×4×10cm），符合人體工學的無創血糖儀，用戶單手即可快速完成血糖監測；
技術先進性：
首次實現了 利用差分拉曼光譜技術在指甲處實現全天動態血糖監測。對比分析國內外所檢文獻，屬于我們首次提出。
推廣應用價值：
有望解決利用傳統拉曼光譜技術諸多問題，將極大促進拉曼光譜技術在動態血糖監測領域的應用，加快相應無創血糖儀的推出和市場推廣。
市場前景：
我國糖尿病患者近1.4億，未來三年無創血糖儀的市場將達到180億元，我們按1%市場占有率來看，銷售規模將超億元。
前期應用情況：
項目的技術開發完成，工程化樣機開發完成，處于大樣本病例數據采集測試中。
北京理工大學
2022-08-17
雙重（三重）差分模型在政策評價中的運用
雙重（三重）差分模型通過設置交互項來分析政策效應，在政策評價領域具有明顯優勢。該研究設計的優勢在于：第一，通過將改革引起的結局變量時間前后差異和組織內外部因素引起的結局變量的差異結合起來，以反映改革的效應。第二，其他因素的影響，如研究階段內可能存在其他政策，這些政策可能與本研究關注的結局相關。如果這些政策對不同組別的影響不一致，那么排除這些政策就可能會產生偏倚。如果研究樣本當中這些因素分布不均衡，就應該對這些非隨機的因素進行控制以稀釋它的不同影響。尤其是在評價宏觀事件的影響時，因為在研究設計上無法找到一個符合實際的合理的對照組而對控制其他改革效應帶來了難度。雙重差分可提供一個罕見于其他相關研究的機會，通過政策實施前后結果取差來排除沒有考慮到的因素的存在以及由于它們的存在可能造成的混雜效應，使對政策效應的分析更加可行，也更接近現實實際。
成都中醫藥大學
2015-07-15
一種基于混合差分的車流量檢測方法
本發明公開了一種基于混合差分的車流量檢測方法，其步驟包括采用攝像機采集道路交通視頻，經逐幀提取視頻中的圖像并進行預處理，獲得待檢測的包含道路和車輛信息的圖像f(x，y)，再在車流量檢測模塊中對圖像f(x，y)進行處理，識別出圖像中車輛信息并計數。本發明對車流量進行檢測的準確性好，獲得的正確率和漏檢率分別比背景差法提高和降低約3％，獲得的誤檢率比幀間差法低約18％。
西南交通大學
2016-10-20
一種基于位移差分的 MEMS 重力梯度儀
本發明公開了一種基于位移差分的 MEMS 重力梯度儀。包括第一振子單元和第二振子單元；前者包括第一外圍框架和與第一外圍框架通過第一組梁連接的第一檢驗質量，后者包括第二外圍框架和與第二外圍框架通過第二組梁連接的第二檢驗質量，第一組梁和第一檢驗質量構成第一機械振子，第二組梁和第二檢驗質量構成第二機械振子，第一振子單元和第二振子單元相向正對設置，第一機械振子和第二機械振子的敏感軸位于同一直線上，第一檢驗質量上的電容陣列與第二檢驗質量上的電容陣列構成位移檢測電容，通過位移檢測電容測得檢驗質量的位移差進而得到
華中科技大學
2021-04-14
頭顱骨附血管神經模型（仿真頭顱模型10部分
XM-118頭顱骨附血管神經模型（仿真頭顱模型10部分）
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XM-118頭顱骨附血管神經模型（仿真頭顱模型10部分）可分解成10個部件，由顱頂、顱底矢狀切面、額骨、顳骨、上頜骨、犁骨等10個部件等組成，顯示腦顱骨、面顱骨和顱的整體觀形態結構，顱頂、顱底的硬腦膜竇和動脈用彩色標志。
尺寸：自然大，20×13×18cm
材質：PVC材料
上海欣曼科教設備有限公司
2021-08-23
南京第四分析儀器有限公司
南京第四分析儀器有限公司前身南京第四分析儀器廠，創建于1976年，是國內金屬高速分析儀器的首創廠家，中國非接觸式引弧電弧爐的創始者，電弧燃燒法檢測碳硫的標準起草單位，是集化學、光學、電子、機械多學科為一體、鐵道部扶持、冶金部鋼鐵研究總院和江蘇省機械工業廳專業生產高速分析儀器的技術密集型推廣企業，也是代表高速分析學科領域的江蘇省分析測試協會的會員單位，山東省鑄造協會、浙江省鑄造協會、精鑄協會會員及華東地區鑄造協會會員單位，中國質量誠信企業會員單位、江蘇質量誠信AAA級品牌企業，ISO9001:2000國際質量管理體系認證企業，東南大學數字化分析儀器研發中心、東南大學教學科研實驗基地。
“四分”公司系自行設計制造高速分析儀器的專業化公司。歷年來，公司憑借悠久的生產歷史，雄厚的技術力量，精良的加工設備，先進的生產工藝，高精度的檢測手段，以一貫奉行“誠信待客、以人為本、科技興企、勇于創新”的企業經營理念，外抓市場，內挖潛力，嚴格按照《公司法》，依照 ISO9000質量體系標準運行，不斷開發生產性能卓越、質量上乘、具有國內先進水平的高速分析儀器。其產品廣泛應用于冶金、鑄造、采礦、建筑、機械、電子、環保、衛生、化工、電力、技術監督等部門，可檢測鋼、鐵及鐵合金、鋁合金等多種材料中各種化學成份的含量，如碳、硫、錳、磷、硅、鉻、銅、鎳、鉬、鈦、釩、稀土總量、鎂、鎢、鈷、硼、鐵等元素的測定，與傳統法比較，其速度和精度已有了極大提高，常規的爐前控制元素檢測速度達到了“讀秒”水準。
南京第四分析儀器有限公司
2021-01-15
一種基于激光沖擊波技術定向超高速噴涂的方法及裝置
（專利號：ZL 201510093120.5） 簡介：本發明公開一種基于激光沖擊波技術定向超高速噴涂的方法及裝置，涉及零件加工再制造技術領域。該噴涂方法首先利用電極產生的高溫電弧加熱熔化涂層材料的噴涂絲成熔滴脫落，熔滴被霧化氣體霧化成微滴流，然后由激光脈沖束輻照于微滴流表面上，表面一部分微滴吸收激光能量，瞬間氣化和電離形成高壓等離子體，高壓等離子體繼續吸收激光能量膨脹爆炸形成GPa量級的高壓沖擊波，高壓沖擊波驅動著微粒流高速噴射到工件表面形成涂層。噴涂裝置包括激光發生器、導光分光系統、電弧制液系統、工件夾具系統、回收系統以及控制系統。本發明能夠實現高速高效噴涂，涂層與基體的結合強度好，涂層的致密度高、空隙率低，具有較高抗熱疲勞和機械疲勞的性能。
安徽工業大學
2021-04-11
黃銅礦類正單軸晶體制備紅外非線性光學元件的定向切割方法
一種黃銅礦類正單軸晶體制備紅外非線性光學元件的定向切割方法，步驟包括：(1) 根據黃銅礦類正單軸晶體解理面{101}和{112}，利用帶有吳氏網標尺的晶體標準極圖和 X射線衍射儀θ-2θ連續掃描確定晶體的C軸方向；(2)將已確定C軸方向的晶體置于切 割機上，根據光學元件所需的相位匹配角θm朝近C軸方向轉動樣品臺Δθ后進行切割， 獲得光學元件初樣，Δθ＝θ(101)-θm；(3)將光學元件初樣置于X射線衍射儀樣品臺 上，測定光學元件初樣切割面的回擺譜，獲得衍射峰位值θ′及Δθ′，Δθ′＝|θ′- θ′(101)|；(4)光學元件的精加工，對光學元件初樣切割面進行修正，直至Δθ′＝Δθ。
四川大學
2021-04-11