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一種基于光譜分辨率校正提高光信噪比測量精度的方法
本發明公開了一種基于光譜分辨率校正提高光信噪比測量精度 的方法，通過測量一定帶寬內寬光譜信號的實際功率，以及采用光譜 分析儀測量該寬光譜信號在該帶寬內的采樣點的功率之和，獲取光譜 分析儀的校正分辨率；并用校正分辨率代替光譜分析儀的設置分辨率， 獲取光信噪比，提高其測量精度；本發明提供的這種基于光譜分辨率 校正提高光信噪比測量精度的方法能有效地解決光譜分析儀的設置分 辨率與實際分辨率不同導致光信噪比測量誤差較大的問題；
華中科技大學
2021-04-14
基于快速二值編碼的高分辨率遙感影像場景分類方法
本發明提供了一種基于快速二值編碼的高分辨率遙感影像場景分類方法，包括步驟:步驟 1，劃分 待分類遙感影像獲得場景單元;步驟 2，從場景單元中提取尺寸相同的圖像塊作為局部圖像塊訓練樣本; 步驟 3，采用非監督學習法學習局部圖像塊訓練樣本獲得濾波器組;步驟 4，將場景單元與濾波器組中 各濾波器分別做卷積獲得各場景單元的幅濾波器響應圖，采用二值編碼法分別融合各場景單元的幅濾波 器響應圖獲得各場景單元的全局特征描述;步驟 5，基于場景單元的全局特征描述進行場景單元分類。 本發明在保證場景分類精度的前提下，大大降低了非監學習法的計算代價。
武漢大學
2021-04-13
MV- 1300UC-MINI高分辨率工業數字攝像頭
產品詳細介紹
維視數字圖像（北京）有限公司
2021-08-23
高視角分辨率的360°視場三維顯示裝置和顯示方法
本發明公開了高視角分辨率的360°視場三維顯示裝置，包括：LED光源、照明光學系統、空間光調制器、投影光學系統、組合式定向散射屏、轉動裝置、圖像存儲控制模塊、轉動檢測模塊和光源脈沖驅動控制模塊。本發明還公開了實現高視角分辨率的360°視場三維顯示方法。本發明通過光源脈沖驅動控制模塊對LED光源進行脈沖點亮的方式與組合式定向散射屏的旋轉相配合，利用了每個定向散射子屏散射方向的微小偏差實現高密度的視角掃描，實現了具有高視角分辨率的360°視場三維顯示，提高了三維顯示圖像的質量，更加符合人眼自然觀察的習慣。
浙江大學
2021-04-11
一種空間分辨率自適應調整的粒子圖像測速矢量估計方法
本發明公開了一種空間分辨率自適應調整的粒子圖像測速矢量估計方法。所述空間分辨率自適應調整的粒子圖像測速矢量估計方法，首先對第 n 時刻和第 n+1 時刻的圖像進行降噪處理，然后根據第 n 時刻的查詢窗口參數更新第 n+1 時刻的查詢窗口參數,最后根據第 n+1 時刻的查詢窗口參數，對第 n 時刻和第 n+1 時刻圖像進行 PIV 流場矢量估計，得到全場速度矢量，其中查詢窗口參數由人工指定。本發明提供的空間分辨率自適應調整的粒子圖像測量方法突破了傳統的粒子圖像測速方法單向計算的計算模式，能自動適應流暢
華中科技大學
2021-04-14
一種空間分辨率自適應調整的粒子圖像測速矢量估計方法
本發明公開了一種空間分辨率自適應調整的粒子圖像測速矢量 估計方法。所述空間分辨率自適應調整的粒子圖像測速矢量估計方法， 首先對第 n 時刻和第 n+1 時刻的圖像進行降噪處理，然后根據第 n 時 刻的查詢窗口參數更新第n+1時刻的查詢窗口參數,最后根據第n+1時 刻的查詢窗口參數，對第 n 時刻和第 n+1 時刻圖像進行 PIV 流場矢量 估計，得到全場速度矢量，其中查詢窗口參數由人工指定。本發明提 供的空間分辨率自適應調整的粒子圖像測量方法突破了傳統的粒子圖 像測速方法單向計算的計算模式，能自動適
華中科技大學
2021-04-14
一種提高微型光譜儀紫外響應和分辨率的濾光片
本實用新型提供一種提高微型光譜儀紫外響應和分辨率的濾光片，包括基板、鍍膜層和鍍膜保護層， 所述鍍膜層分為三個區域，在不同區域分別鍍有紫外轉換膜，紫外截止濾光膜，可見光截止濾光膜。本 實用新型同時解決了紫外效率低、可見光、紅外光波段存在高次衍射光的問題，并且可以根據光譜儀的 光譜范圍選擇鍍膜的層數、類型、區間長度，具有安裝拆卸方便，結構簡單，使用靈活的特點，且鍍膜 之間不會相互產生干涉。
武漢大學
2021-04-13
區域大氣污染源高分辨率排放清單關鍵技術與應用
北京工業大學
2021-04-14
一種時間分辨率自適應調整的流場狀態測量方法
本發明公開了一種時間分辨率自適應調整的流場狀態測量方法，該方法包括如下步驟：首先，根據第 k+1 時刻圖像與第 k 時刻圖像之間的時間間隔Δt<sub>k</sub>，采集第 k+1 時刻圖像，并對第 k 時刻和第k+1 時刻的圖像進行降噪處理；然后，據 k 時刻圖像和第 k+1 時刻的圖像，采用粒子圖像測速方法，計算第 k+1 時刻的流場狀態 X(k+1)，包括：位移場 x(k+1)、速度場 x′(k+1)、加速度場 a(k+1)，并輸出顯示；最后，更新第 k+2 時刻與第
華中科技大學
2021-04-14
可變溫霍爾效應測試儀高低溫磁場型0.1GS分辨率
霍爾效應測試儀—高低溫磁場型本儀器系統由：電磁鐵、電磁鐵電源、高精度恒流源高精度電壓表、高斯計、霍爾效應樣品支架、標準樣品、高低溫杜瓦，控溫儀，系統軟件。為本儀器系統專門研制的JH10 效應儀將恒流源，六位半微伏表及霍爾測量復雜的切換繼電器——開關組裝成一體，大大減化了實驗的連線與操作。
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產品概述：
本儀器系統由：電磁鐵、電磁鐵電源、高精度恒流源高精度電壓表、高斯計、霍爾效應樣品支架、標準樣品、高低溫杜瓦，控溫儀，系統軟件。為本儀器系統專門研制的JH10 效應儀將恒流源，六位半微伏表及霍爾測量復雜的切換繼電器——開關組裝成一體，大大減化了實驗的連線與操作。JH10 可單獨做恒流源、微伏表使用。用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數等重要參數，而這些參數是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的，因此霍爾效應測試系統是理解和研究半導體器件和半導體材料電學特性必*的工具。 實驗結果由軟件自動計算得到，可同時得到體載流子濃度(Bulk Carrier oncentration)、表面載流子濃度(Sheet Carrier Concentration)、遷移率(Mobility)、電阻率(Resistivity)、霍爾系數(Hall Coefficient)、磁致電阻(Magnetoresistance)等。
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可測試材料: Ø
半導體材料：SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 和鐵氧體材料等；
低阻抗材料：石墨烯、金屬、透明氧化物、弱磁性半導體材料、TMR 材料等；
高阻抗材料：半絕緣的 GaAs, GaN, CdTe 等。
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北京錦正茂科技有限公司
2022-05-10