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產(chǎn)品詳細介紹CP-1防水卷材沖片機(力特) 防水卷材沖片機用于將防水卷材、橡膠、塑膠、皮革及其他特殊材料沖切成各種標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試片，供試驗時用。亦可充當(dāng)小型沖床使用。   技術(shù)參數(shù)： 1、行程：大于25mm 2、工作臺規(guī)格：320mm×228mm 3、裁刀規(guī)格：按用戶或標(biāo)準(zhǔn)要求（選配） 4、外型尺寸：520mm×450mm×520mm 5、凈重：85kg

實驗原理 AFM是SPM家族中應(yīng)用領(lǐng)域最為廣泛的表面觀察與研究工具之一。其工作原理基于原子之間的相互作用力。當(dāng)一根十分尖銳的微探針在縱向充分逼近樣品表面至數(shù)納米甚至更小間距時，微探針尖端的原子和樣品表面的原子之間將產(chǎn)生相互作用的原子力。原子力的大小與間距之間存在一定的曲線關(guān)系。在間距較大的起始階段，原子力表現(xiàn)為引力，隨著間距的進一步減小，由于價電子云的相互重疊和兩個原子核的電荷間的相互作用，原子力又轉(zhuǎn)而表現(xiàn)為排斥力。這種排斥力隨著間距的縮短而急劇增大。AFM正是利用原子力與間距之間的這些關(guān)系，通過檢測原子間的作用力而獲得樣品表面的微觀形貌的。   儀器概述 AFM采用對微弱力極其敏感的微懸臂作為力傳感器──微探針。微懸臂一端固定，另一端置有一與微懸臂平面垂直的金字塔狀微針尖。當(dāng)針尖與樣品之間的距離逼近到一定程度時，兩者間將產(chǎn)生相互作用的原子力，其中切向力（摩擦力）Ft使微懸臂扭曲，法向（縱向）力Fn將推動微懸臂偏轉(zhuǎn)。我們所關(guān)心的主要是縱向力Fn，它與針尖──樣品間距成一定的對應(yīng)關(guān)系，即與樣品表面的起伏具有對應(yīng)關(guān)系。微懸臂的偏轉(zhuǎn)量十分微小，無法進行直接檢測，采用光學(xué)方法將偏轉(zhuǎn)量放大，可推知微懸臂偏轉(zhuǎn)量（即原子力）的大小，最終獲得樣品表面的微觀形貌。   儀器特點 特有的臥式探頭 臥式AFM探頭設(shè)計，使原子力作用方向與重力方向垂直而互不干擾；降低了探頭的整體重心；克服了原有粗調(diào)與微調(diào)逼近機構(gòu)的垂直蠕動；具有獨特的臥式可視化光路。探頭及儀器性能更加穩(wěn)定和優(yōu)越。   穩(wěn)定的三軸壓電掃描器 采用互相正交的三軸壓電陶瓷掃描控制器，X、Y、Z三軸壓電陶瓷之間互不耦合，可保證掃描圖像不因耦合而失真；掃描器具有更好的掃描線性和獨立性、更高的強度和剛度，兼具更強的掃描驅(qū)動力，能同時適用于較小與較大、較輕與較重樣品的掃描成像。   優(yōu)化的檢測與控制系統(tǒng) 采用優(yōu)化的微納米掃描與反饋控制電路系統(tǒng)，配以多路高精度A/D&D/A控制接口，可獲得更高的掃描分辨率、更好的重復(fù)性和更佳的圖像質(zhì)量。   完善的軟件界面與功能 功能強大、界面友好，可適用于Windows XP/Win7/Win8/Win10等操作系統(tǒng)。一般操作者均可輕松而熟練地掌握，只需點擊鼠標(biāo)，即可完成從圖像掃描到圖像處理及數(shù)據(jù)信息計算的全部操作。可用鼠標(biāo)任意選擇局部掃描區(qū)域，實現(xiàn)圖像平移、定位和縮放；可設(shè)定掃描次數(shù)并自動控制掃描停止；具有實現(xiàn)X、Y方向的面掃描和線掃描的功能；可獲得樣品表面的納米級三維形貌結(jié)構(gòu)和截面線；高質(zhì)量的彩色/黑白平面圖像顯示與三維立體圖像顯示；具有圖像的二維和三維納米標(biāo)尺標(biāo)注功能及粒徑測量功能；具備納米級表面微觀粗糙度的統(tǒng)計及計算功能；可精確測定樣品表面的微納米級臺階高度和深度；完善的圖像處理功能，包括裁剪、粘貼、旋轉(zhuǎn)、對比調(diào)節(jié)、亮度調(diào)節(jié)、顏色調(diào)整、背景色調(diào)整、圖像平滑、濾波等。   簡單便捷的儀器操作 AFM的操作十分簡單和便捷，一般操作人員即可完成，無需專人操作和維護。安裝探針、安裝樣品、粗調(diào)和微調(diào)進樣、圖像掃描、圖像存儲等操作，均可在1分鐘內(nèi)完成。特別適用于科學(xué)研究、教學(xué)實驗及產(chǎn)品檢測。   高穩(wěn)定性與抗干擾能力 AFM既可在良好的實驗條件下完美工作，也可在有一般實驗室、普通桌面、有輕微振動、有環(huán)境干擾、有光照等條件下正常運作，快速掃描觀察各種微納米樣品，獲得理想的圖像和微納米結(jié)構(gòu)信息。具備更好的穩(wěn)定性和抗震性，更強的抗（光、電、磁等）干擾能力，更快的掃描速度（最快1幅圖像/1~6秒，作為對比，進口儀器的掃描速率一般為1幅圖像/10~20分鐘甚至更慢）。   高適用性廣泛應(yīng)用領(lǐng)域 可同時適用于科學(xué)研究、本科生和研究生的教學(xué)實驗及納米技術(shù)產(chǎn)品的檢測，廣泛適用于各種金屬/非金屬、導(dǎo)體/非導(dǎo)體、磁性/非磁性材料樣品的掃描檢測。對被測材料樣品無特殊要求，免去繁瑣的樣品制備過程，可直接掃描獲得微納米結(jié)構(gòu)信息。   實驗內(nèi)容與典型實驗數(shù)據(jù) 部分掃描測試樣品的AFM圖像   部件列表 描述 數(shù)量 原子力顯微鏡探頭 1 控制機箱 1 直流高壓電源 1 A/D&D/A控制接口卡 1 AFM微探針 15組60 tips USB光學(xué)顯微鏡 1 一體機, 含AFM掃描控制軟件 1 樣品 5 剪刀、鑷子、啟子、放大鏡等工具 1

成果完成年份：2011年8月 成果簡介：本軟件項目的成果是一款基于Windows7系統(tǒng)的Kinect休閑體感游戲，項目委托人是第二屆“中科杯”軟件設(shè)計大賽，項目開發(fā)環(huán)境是VisualStudio2010。 項目來源：自行開發(fā) 技術(shù)領(lǐng)域：信息技術(shù) 應(yīng)用范圍：適用于任何群體 現(xiàn)狀特點：國內(nèi)領(lǐng)先 技術(shù)創(chuàng)新：將Kinect體感設(shè)備與Window7PC游戲相結(jié)合，所有手勢識別算法，物理場，3d場景均為原創(chuàng)，游戲制作技術(shù)較為領(lǐng)

探火管式滅火裝置是一套簡單、低成本而且可靠度高的獨立式自動滅火系統(tǒng)，隨著行業(yè)場所的廣泛應(yīng)用，誤啟動情況偶有發(fā)生，造成一定的麻煩，為避免此類情況，青島中陽消防科技股份有限公司經(jīng)過大力攻關(guān)，創(chuàng)新研發(fā)了雙極探火管式滅火裝置，極大地降低滅火裝置誤動作的比例。 優(yōu)勢特點：雙路探測，動作可靠，結(jié)構(gòu)簡單，安全方便。一級預(yù)警，二級確認后啟動，減少誤動作。雙探火管釋放，滅火劑噴發(fā)速度更快，效率更高。 應(yīng)用范圍：探火管式滅火裝置解決了電器設(shè)備、控制箱、配電柜等易發(fā)生火災(zāi)的狹小空間的防火問題（詳見《建筑設(shè)計防火規(guī)范》GB50016）。目前，該裝置廣泛應(yīng)用于電力、通訊、石化、鐵路、金融等行業(yè)。TH-J-E-42/150/170-SF間接式裝置構(gòu)成及原理雙極探火管式滅火裝置由容器、容器閥以及雙極探火管、壓力表等組成、探火管通過容器閥連接到容器上，一路探測到火源時發(fā)出預(yù)警信號，另一路再次探測到火災(zāi)信號并爆破壓力下降，啟動容器閥，通過釋放管將滅火劑通過噴頭釋放，撲滅火災(zāi)。釋放方式：間接式型號規(guī)格：TH-J-E-42/150/170-SF滅火劑充裝量：42kg（0-5%）20℃貯存壓力：5.7MPa最大工作壓力：12.4MPa單位體積所需滅火劑最小量：1.14kg/m3（A類）0.69kg/m3（B類）探火管最大長度：2×25m釋放管最大長度：12m工作溫度范圍：0~50℃

本發(fā)明公開了一種毛細管力驅(qū)動制備的微腔量子點激光器及制備方法，所述激光器包括上基板及其下表面的布拉格反射鏡、熱封膜和封口、下基板及其上表面的布拉格反射鏡、量子點增益材料和激光泵浦源；所述熱封膜將具有布拉格反射鏡的上、下基板緊密的熱封在一起，形成微腔用于容置量子點增益材料，熱封膜兩端封口處用紫外固化膠密封；所述量子點增益材料采用濃度為50?120 mg/ml的高濃度量子點溶液。本發(fā)明的量子點激光器件波長可隨著量子點尺寸變化進行調(diào)制，制備工藝簡單，重復(fù)性和穩(wěn)定性較高。激光器在短波激光泵浦下有很好的光增益，且相干性很好，出光波長可隨量子點發(fā)光峰位置在全可見光譜范圍調(diào)節(jié)，制備成本低并易于實現(xiàn)大規(guī)模產(chǎn)業(yè)化生產(chǎn)。

本發(fā)明公開了一種基于六維力傳感器和雙目視覺的機器人打磨裝置及打磨方法，打磨裝置包括機械臂、傳感器固定座、六維力傳感器、工業(yè)相機、柔性連接件、電機固定座、打磨電機和雙軸加速度傳感器；六維力傳感器通過傳感器固定座與機械臂的末端關(guān)節(jié)固定連接；六維力傳感器通過柔性連接件與電機固定座柔性連接，打磨電機安裝在電機固定座上；工業(yè)相機對稱設(shè)在柔性連接件的兩側(cè)；雙軸加速度傳感器分別設(shè)在機械臂的末端關(guān)節(jié)和打磨電機上。打磨方法包括步驟1，深度點云圖生成；步驟2，打磨時機控制；步驟3，PI控制打磨和步驟4，機械臂位置補償。本發(fā)明簡單穩(wěn)定，易于控制，打磨效果好，效率高；同時，還能補償打磨過程中的位置偏移，提高加工質(zhì)量。

本實用新型公開了一種基于伺服驅(qū)動加載的三維力傳感器動態(tài)響應(yīng)標(biāo)定裝置，包括標(biāo)定裝置工作臺、傳感器固定盤、傳感器加載件、伺服加載系統(tǒng)和加載裝置固定平臺。所述裝置工作臺由頂板、立柱和底板組成，立柱底部設(shè)有調(diào)平器，頂板上部設(shè)有水平儀、下方安裝傳感器固定盤；三維力傳感器的頂部和底部均具有螺孔，用于連接傳感器固定盤和傳感器加載件；標(biāo)定裝置工作臺的X、Y、Z方向各具有一套伺服加載系統(tǒng)，分別安裝在加載裝置固定平臺和工作臺底板上；伺服加載系統(tǒng)包括伺服電機、減速器、聯(lián)軸器、絲桿、軸力計和加載頭。本實用新型裝置適用于不同量程的力傳感器，精度高，實現(xiàn)荷載的連續(xù)動態(tài)加載測量，使用效果好，便于推廣使用。

左和平教授等所著《中國陶瓷產(chǎn)業(yè)國際競爭力研究》一書通過探索陶瓷產(chǎn)業(yè)國際競爭力的形成機理，發(fā)現(xiàn)陶瓷產(chǎn)業(yè)國際競爭力的培育路徑和影響因素；通過在全球視角下分析中國陶瓷產(chǎn)業(yè)的生產(chǎn)與貿(mào)易現(xiàn)狀，分析中國陶瓷產(chǎn)業(yè)的發(fā)展態(tài)勢和趨勢；通過中國陶瓷產(chǎn)業(yè)國際競爭力與區(qū)域競爭力的測度，明確中國陶瓷產(chǎn)業(yè)國際競爭力的國際地位、區(qū)域分布和發(fā)展態(tài)勢；尋找提升中國陶瓷產(chǎn)業(yè)國際競爭力的有效途徑和具體的戰(zhàn)略措施，促進中國陶瓷產(chǎn)業(yè)國際競爭力的提高。本書獲得第五屆江西省高等學(xué)校科技成果獎一等獎。

原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope, AFM)，是一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)。將一對微弱力極端敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時它將與其相互作用，作用力將使得微懸臂發(fā)生形變或運動狀態(tài)發(fā)生變化。掃描樣品時，利用傳感器檢測這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級分辨率獲得表面形貌結(jié)構(gòu)信息及表面粗糙度信息。 原子力顯微鏡主要由帶針尖的微懸臂，微懸臂運動檢測裝置，監(jiān)控其運動的反饋回路，使樣品進行掃描的壓電陶瓷掃描器件，計算機控制的圖像采集、顯示及處理系統(tǒng)組成。微懸臂運動可用如隧道電流檢測等電學(xué)方法或光束偏轉(zhuǎn)法、干涉法等光學(xué)方法檢測，當(dāng)針尖與樣品充分接近相互之間存在短程相互斥力時，檢測該斥力可獲得表面原子級分辨圖像，一般情況下分辨率也在納米級水平。AFM 測量對樣品無特殊要求，可測量固體表面、吸附體系等。

項目簡介 原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope, AFM)，是一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)。將一對微弱力極端敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時它將與其相互作用，作用力將使得微懸臂發(fā)生形變或運動狀態(tài)發(fā)生變化。掃描樣品時，利用傳感器檢測這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級分辨率獲得表面形貌結(jié)構(gòu)信息及表面粗糙度信息。原子力顯微鏡主要由帶針尖的微懸臂，微懸臂運動檢測裝置，監(jiān)控其運動的反饋回路，使樣品進行掃描的壓電陶瓷掃描器件，計算機控制的圖像采集、顯示及處理系統(tǒng)組成。微懸臂運動可用如隧道電流檢測等電學(xué)方法或光束偏轉(zhuǎn)法、干涉法等光學(xué)方法檢測，當(dāng)針尖與樣品充分接近相互之間存在短程相互斥力時，檢測該斥力可獲得表面原子級分辨圖像，一般情況下分辨率也在納米級水平。AFM 測量對樣品無特殊要求，可測量固體表面、吸附體系等。a 傳統(tǒng)的商業(yè)CAFM 針尖圖  b 覆蓋有石墨烯層的CAFM 針尖應(yīng)用范圍原子力顯微鏡(AFM) 在許多基礎(chǔ)研究領(lǐng)域中得到廣泛使用，是超微觀察工具，特別是對于不具有導(dǎo)電性的生物樣品和有機材料等，AFM 同樣可以提供較高分辨率的表面形貌圖像。同時，AFM 還具有操縱和改造原子、分子世界的手段。原子力顯微鏡為了避免加寬效應(yīng)，一般通過電子束加工針尖使其曲率半徑達到幾個納米，來提高圖像的分辨率和準(zhǔn)確度。但仍然存在著一些局限性，例如：針尖性質(zhì)的變化很大，獲得高分辨率的圖像變得很難。另外，針尖掃描時的磨損對分辨率也有影響。AFM 能獲得原子分辨率，主要是因為在其針尖的表面存在著原子級的突起，構(gòu)成了與樣品的實際接觸。但是這些突起的尺寸形狀和化學(xué)組成是未知的，而且在實驗中經(jīng)常發(fā)生改變，因此獲得可信賴的針尖是成像過程中獲得高分辨率的關(guān)鍵。不同的針尖適用于AFM 不同的應(yīng)用領(lǐng)域。導(dǎo)電原子力顯微鏡（CAFM）采用固體金屬作AFM 的針尖，對材料進行納米尺度的電學(xué)表征依然存在著同樣的困擾。 項目階段北京大學(xué)工學(xué)院研究團隊利用單層石墨烯包覆CAFM 金屬針尖，發(fā)現(xiàn)石墨烯包覆的針尖保留了包覆前針尖的形狀，并且包覆的針尖能承受非常高的電流和摩擦力。新型針尖具有穩(wěn)定、耐磨、壽命長、圖像失真度低等優(yōu)點，很好的解決了現(xiàn)有AFM 針尖中存在的問題，提高了AFM 的儀器性能。知識產(chǎn)權(quán)該項研究已經(jīng)申請了歐洲專利，納米技術(shù)設(shè)備領(lǐng)域的諸多公司表現(xiàn)出了對該項研究成果的強烈興趣。合作方式 技術(shù)轉(zhuǎn)讓、合作開發(fā)、技術(shù)入股。